Alpha-Step D-300/500 探針式輪廓儀支持臺階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力的2D 測量。Alpha-Step臺階儀光學(xué)杠桿傳感器技術(shù)提供高分辨率測量，大垂直范圍和低觸力測量功能。 ...
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Element美國EDAX能譜儀
EP6美國 Cascade Microtech EP6探針臺
TEM氮化硅薄膜窗口
NTEGRAPrima俄羅斯產(chǎn)全功能掃描探針原子力顯微鏡
Zeta-20三維光學(xué)輪廓儀
主動隔振臺ARISTT
石英/硅/聚合物模板高分辨率納米壓印模板（Mold for nanoimprint lithography）
P170全自動晶圓探針式輪廓儀/臺階儀
iNano高精度臺式納米壓痕儀
PLD/Laser-MBE脈沖激光沉積/分子束外延聯(lián)用系統(tǒng)
P7晶圓探針式輪廓儀/臺階儀
納米團(tuán)簇束流沉積系統(tǒng)
Lumina光學(xué)表面缺陷分析儀
Profilm 3D經(jīng)濟(jì)三維光學(xué)輪廓儀 可測樣
Solver P47俄羅斯產(chǎn)高性價(jià)比掃描探針顯微鏡原子力
納米壓印膠
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Alpha-Step D-300/500 探針式輪廓儀支持臺階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力的2D 測量。Alpha-Step臺階儀光學(xué)杠桿傳感器技術(shù)提供高分辨率測量，大垂直范圍和低觸力測量功能。 ...
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非接觸式輪廓儀優(yōu)點(diǎn)就是測量裝置探測部分不與被測表面的直接接觸，保護(hù)了測量裝置，同時避免了與測量裝置直接接觸引入的測量誤差。Zeta-20三維光學(xué)輪廓儀集成了六種光學(xué)計(jì)量技術(shù)。 ZDot 測量模式同時采...
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Profilm 3D是一款兼具垂直掃描干涉 (VSI)和高精確度相移干涉 (PSI) 技術(shù)的經(jīng)濟(jì)三維光學(xué)輪廓儀，其可以用于多種用途的高精度表面測量。我司有此機(jī)器可測樣。
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Lumina AT1光學(xué)表面缺陷分析儀可對玻璃、半導(dǎo)體及光電子材料進(jìn)行表面檢測。Lumina AT1既能夠檢測SiC、GaN、藍(lán)寶石和玻璃等透明材料，又能對Si、砷化鎵、磷化銦等不透明基板進(jìn)行檢測，其...
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與X射線用氮化硅窗口類似，透射電鏡(TEM)用氮化硅薄膜窗口也使用低應(yīng)力氮化硅薄膜基底。但整體尺度更小，適合TEM裝樣的要求。窗口有單窗口和多窗口陣列等不同規(guī)格。同時SHNTI也定制多孔氮化硅薄膜窗口...
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公司擁有齊全的納米系列壓印膠材料，熱壓型納米壓印膠、熱塑型、紫外光固化型、紫外光固化納米壓印和光刻兩用膠、舉離型傳遞層材料、刻蝕型傳遞層材料、各種與納米壓印技術(shù)相關(guān)的化學(xué)藥品，如模板防粘劑、基片增粘劑...
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P-170是cassette-to-cassette探針式輪廓儀，將P-17臺式系統(tǒng)的測量性能和經(jīng)過生產(chǎn)驗(yàn)證的HRP®-260的機(jī)械傳送臂相結(jié)合。 這樣的組合為機(jī)械傳送臂系統(tǒng)提供了低成本，適...
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P-7晶圓探針式輪廓儀/臺階儀保持了P-17技術(shù)的測量性能，并作為臺式探針輪廓儀平臺提供了好的性價(jià)比。 P-7可以對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進(jìn)行2D和3D測量，其掃描可達(dá)150mm而無需圖像拼接...
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高分辨率納米壓印模板（Mold for nanoimprint lithography）采用*制造工藝，可把平面納米壓印拓展到任意曲面。標(biāo)準(zhǔn)模板分為三類：Quartz Molds, Silicon M...
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SHNTI的X-射線薄膜窗能夠?qū)崿F(xiàn)軟X-射線(如真空紫外線)的Z大透射率。主要用于同步輻射X射線透射顯微成像時承載樣品。 X-射線越軟(能量越低)，穿透能力越差，所需氮化硅薄膜窗越薄。特別在“離軸”狀...
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納米壓印的技術(shù)與工藝特點(diǎn)，*性地設(shè)計(jì)和制備工作于低真空環(huán)境下，結(jié)合正負(fù)壓可控調(diào)節(jié)并利用壓縮空氣作為壓印驅(qū)動力的，通過壓力傳導(dǎo)裝置、緩沖與勻壓、壓力調(diào)節(jié)控制裝置等手段實(shí)現(xiàn)平穩(wěn)可靠可控的壓印過程，借助于多...
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俄羅斯產(chǎn)高性價(jià)比掃描探針顯微鏡原子力驅(qū)近系統(tǒng)的機(jī)械設(shè)計(jì)可使得經(jīng)過幾次驅(qū)近之后仍然能獲得相同的檢測區(qū)域。掃描位移大約為500nm，這個特點(diǎn)可以讓您在幾周內(nèi)仍然能夠研究相同的樣品區(qū)域。
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產(chǎn)品分類掃描探針顯微鏡
日本原裝隔振平臺
能譜儀
輪廓儀
光纖光譜儀
俄羅斯NT-MDT針尖耗材
納米團(tuán)簇束流沉積系統(tǒng)
脈沖激光沉積/分子束外延聯(lián)用系統(tǒng)
超高真空脈沖激光鍍膜系統(tǒng)
納米傳感探針
粒度儀
納米壓印
探針臺
日本臺階儀
臺階儀
納米壓痕儀
電導(dǎo)率儀
硬度計(jì)
拉伸臺
隔振臺
清洗儀
激光制樣
掃描熱學(xué)顯微鏡
等離子共振顯微鏡
光學(xué)表面缺陷分析儀
電子束曝光系統(tǒng)
聚合物筆印刷
原子力顯微鏡
外延薄膜設(shè)備
光刻機(jī)
低溫設(shè)備
鍍膜機(jī)
長晶設(shè)備
顯微鏡
晶圓檢測
組裝與封裝設(shè)備
021-64283335
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為了滿足現(xiàn)代材料研究的挑戰(zhàn)，Swift開發(fā)了一系列*可定制的原位拉伸試樣臺。這些拉伸試樣臺適合多種顯微觀測系統(tǒng)，比如掃描電鏡、透射電鏡、光學(xué)顯微鏡、共聚焦顯微鏡等。支持EBSD，樣品加熱和冷卻,可實(shí)現(xiàn)...
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Alpha-Step D-300/500 探針式輪廓儀支持臺階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力的2D 測量。Alpha-Step臺階儀光學(xué)杠桿傳感器技術(shù)提供高分辨率測量，大垂直范圍和低觸力測量功能。 ...
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非接觸式輪廓儀優(yōu)點(diǎn)就是測量裝置探測部分不與被測表面的直接接觸，保護(hù)了測量裝置，同時避免了與測量裝置直接接觸引入的測量誤差。Zeta-20三維光學(xué)輪廓儀集成了六種光學(xué)計(jì)量技術(shù)。 ZDot 測量模式同時采...
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Profilm 3D是一款兼具垂直掃描干涉 (VSI)和高精確度相移干涉 (PSI) 技術(shù)的經(jīng)濟(jì)三維光學(xué)輪廓儀，其可以用于多種用途的高精度表面測量。我司有此機(jī)器可測樣。
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iNano高精度臺式納米壓痕儀是一種緊湊，用戶友好的納米機(jī)械測量系統(tǒng)，設(shè)計(jì)用于硬涂層，薄膜和少量材料。該系統(tǒng)旨在進(jìn)行準(zhǔn)確，可重復(fù)的納米級機(jī)械測試，包括壓痕，硬度，劃痕和通用納米級測試。iNano具有很...
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Lumina AT1光學(xué)表面缺陷分析儀可對玻璃、半導(dǎo)體及光電子材料進(jìn)行表面檢測。Lumina AT1既能夠檢測SiC、GaN、藍(lán)寶石和玻璃等透明材料，又能對Si、砷化鎵、磷化銦等不透明基板進(jìn)行檢測，其...
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Filmetrics R50 是KLA電阻測試家族的最新產(chǎn)品。R50方阻測試儀是KLA超45年電阻測量技術(shù)地位之作。電阻測量和監(jiān)控對于任何使用導(dǎo)電薄膜的行業(yè)都至關(guān)重要，從半導(dǎo)體制造到可穿戴技術(shù)所需的柔...
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高精度原子力顯微鏡 ParkNX10為您帶來納米級分辨率的數(shù)據(jù)，值得您信賴、使用和擁有。 在SmartScanAuto有的智能模式下，系統(tǒng)自動執(zhí)行所有必要的成像操作，同時智能選擇好的圖像質(zhì)量和掃描...
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Nano Indenter® G200原位納米力學(xué)測試系統(tǒng)是一種準(zhǔn)確，靈活，使用方便的納米級機(jī)械測試儀器。 G200 測量楊氏模量和硬度，包括從納米到毫米的六個數(shù)量級的形變測量。 可測量聚合...
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與X射線用氮化硅窗口類似，透射電鏡(TEM)用氮化硅薄膜窗口也使用低應(yīng)力氮化硅薄膜基底。但整體尺度更小，適合TEM裝樣的要求。窗口有單窗口和多窗口陣列等不同規(guī)格。同時SHNTI也定制多孔氮化硅薄膜窗口...
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公司擁有齊全的納米系列壓印膠材料，熱壓型納米壓印膠、熱塑型、紫外光固化型、紫外光固化納米壓印和光刻兩用膠、舉離型傳遞層材料、刻蝕型傳遞層材料、各種與納米壓印技術(shù)相關(guān)的化學(xué)藥品，如模板防粘劑、基片增粘劑...
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SUME BW510是用于研發(fā)或小批量生產(chǎn)的半自動晶圓鍵合設(shè)備，具備良好的壓力與溫度均勻性較為特的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)保證鍵合的壓盤相對水平，先進(jìn)的真空系統(tǒng)以及腔體設(shè)計(jì)，方便簡潔的菜單編輯和設(shè)備狀態(tài)監(jiān)控以及安全保...
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自由曲面三維面型檢測儀自由曲面光學(xué)元件應(yīng)用于智能車載顯示、AR 顯示、手機(jī)鏡頭、激光顯示、照明、 光刻等前沿領(lǐng)域，自由曲面三維面型檢測儀，能夠非接觸測量光學(xué)鏡面元件的三維面型數(shù)據(jù)，開展三維輪廓分析和三...
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晶圓翹曲應(yīng)力測量儀具備三維翹曲（平整度）及薄膜應(yīng)力的檢測功能，適用于半導(dǎo)體晶圓生產(chǎn)、半導(dǎo)體制程工藝開發(fā)、玻璃及陶瓷晶圓生產(chǎn)
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從產(chǎn)品研發(fā)到質(zhì)量控制，該系統(tǒng)可以用于從超光滑鏡面到粗糙面的各種樣品進(jìn)行表面微觀測量分析和粗糙度質(zhì)量評價(jià)。白光干涉原理。
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Strain Viewer 內(nèi)應(yīng)力檢測儀具備化合物晶圓內(nèi)應(yīng)力分布測量及缺陷篩查等檢測功能
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高級研究型高光譜顯微系統(tǒng)結(jié)合了高光譜技術(shù)和顯微鏡技術(shù)，能夠在不同波長范圍內(nèi)獲取高分辨率的光譜信息與生物樣品形態(tài)圖，實(shí)現(xiàn)在一張圖中同時獲取光譜和圖像信息。該系統(tǒng)還運(yùn)用AI技術(shù)實(shí)現(xiàn)虛擬染色，大幅度提高病理...
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陣列式壓力傳感系統(tǒng)通過由前端柔性陣列式微機(jī)電壓力感測器及后端軟件界面組成，前端傳感器依所承受壓力呈現(xiàn)線性反應(yīng)變化，壓力越大則電導(dǎo)越高，再由后端軟件將接觸面壓力分布實(shí)時呈現(xiàn)并記錄，協(xié)助設(shè)備進(jìn)行有效調(diào)整校...
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碳化硅SiC長晶設(shè)備是實(shí)現(xiàn)高質(zhì)量SiC晶體生長、高純度原料合成、高溫晶體熱處理的專業(yè)設(shè)備。廣泛應(yīng)用于SiC晶體生長、原料合成、晶體熱處理領(lǐng)域。可以生長6/8英寸的晶錠。
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MPCVD金剛石長晶設(shè)備Intelligent MPCVD Dimond Growth System (IMD)系列金剛石晶體生長系統(tǒng)，是實(shí)現(xiàn)高質(zhì)量金剛石晶體生長、高純度晶體薄膜沉積、高溫晶體熱處理的...
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